Bruzzone P., Stepanov B., Koizumi N., Nunoya Y., Matsui K., Nakajima H., Takahashi Y., Isono T., Hemmi T., Yoshikawa M., Nabara Y.
Ключевые слова: ITER, coils toroidal, LTS, Nb3Sn, cable-in-conduit conductor, test results, SULTAN, voltage
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, strands, ITER, design parameters, numerical analysis
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, strands, ITER, measurement technique, strain effects, critical current, critical caracteristics
Murakami M., Hirabayashi I., Sakai N., Kono T., Jirsa M., Muralidhar M.(myriala1@istec.or.jp)
Murakami M., Hirabayashi I., Sakai N., Kono T., Jirsa M., Muralidhar M.(myriala1@istec.or.jp)
Koizumi N., Takahashi Y., Inaguchi T.(inaguchi.takashi@wrc.melco.co.jp), Hasegawa M., Isono T., Hamada K., Sugimoto M.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, cable-in-conduit conductor, coils, ITER, quench, modeling, numerical analysis, power equipment, magnetic properties
Nagaya S., Kashima N., Inoue K., Hakuraku Y., Doi T.(doi@eee.kagoshima-u.ac.jp), Kozono T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, coated conductors, substrate Ag, PLD process, MOD process, microstructure, current-voltage characteristics, fabrication, critical caracteristics
Murakami M., Sakai N., Koshizuka N., Nakao K., Muralidhar M., Kono T.(kono@istec.or.jp)
Murakami M., Sakai N., Koshizuka N., Katagiri K., Kono T., Iida K., Murakami A., Kaneko T.(kaneko@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, grain boundaries, mechanical properties, microstructure, fracture behavior, tensile tests, crack formation, fabrication, experimental results, solder
Nishijima G., Koizumi N., Matsui K., Ando T., Okuno K., Takahashi Y., Isono T., Sugimoto M., Nunoya Y.(nunoya@naka.jaeri.go.jp)
Nunoya Y., Ando T., Okuno K., Ono M., Hasegawa T., Ohtani N., Isono T.(isonot@naka.jaeri.go.jp), Ozaki A., Koizumi T.
Osamura K., Matsumoto K.(matsu@hightc.mtl.kyoto-u.ac.jp), Takechi A., Ono T., Hirabayashi I.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, buffer layers, PLD process, microstructure, experimental results, fabrication, magnetic properties
Osamura K., Ono T., Hirabayashi I., Matsumoto K., Takechi A.(takechi@kumax.kyoto-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, SOE process, cap layers, PLD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.